MAP-200 mORL/mIL 插損/回損測試解決方案

MAP-200 mORL/mIL 插損/回損測試解決方案

主要優(yōu)點(diǎn)

•      使供應效率增加4倍

•      所需空間為其他測試平臺的25%

•      可擴展至高成長(cháng)性、高性能新應用，例如40/100 G數據中心市場(chǎng)

•      模塊化平臺可根據需要在預算允許范圍內擴展

•      通過(guò)端口映射在15秒以?xún)闰炞C多芯光纖MPO組件的連通性及雙向性能

•      *支持快速增長(cháng)的MPO和MTP多光纖連接器的測試

應用

•      對光連接器和光纜組件、結構化布線(xiàn)解決方案和光分路器的插損/回損/長(cháng)度進(jìn)行測試

•      對多芯光纖組件（例如MPO）進(jìn)行自動(dòng)測試

•      單模和多模光纖測試解決方案

•      對大型多芯光纖組件的連通及雙向性能指標進(jìn)行驗證

MAP-200 mORL/mIL 插損/回損測試解決方案

對于連接密集型中心局、數據中心和光分配網(wǎng)絡(luò )至關(guān)重要。在遠程通信、數據通信、無(wú)線(xiàn)回傳和FTTx之外，在海洋、航空電子和軍事應用繼續大幅增加的同時(shí)，新式超級計算應用也在不斷涌現。所有這些市場(chǎng)都是由更高的帶寬要求推動(dòng)的。出于必要，市場(chǎng)上不斷推出新的連接器規格，這是由降低安裝成本、加快部署的需求推動(dòng)的。

但這些連接點(diǎn)的質(zhì)量和光性能往往被忽視。插損和回損（IL和RL）不佳可能會(huì )對網(wǎng)絡(luò )性能造成深遠影響。性能不佳會(huì )直接影響接入和可靠性，甚至會(huì )阻礙技術(shù)升級之路。同時(shí)，經(jīng)濟因素也要求提供商繼續降低成本、加快供應并縮短上市時(shí)間。